吉林华微电子股份有限公司建设新型电力电子器件基地项目（第一阶段）颗粒度测试仪单一来源设备采购项目征求意见公示

（略）建设新型电力电子器件基地项目（第一阶段）颗粒
度测试仪单一来源设备采购项目征求意见公示
(（略）：ZT（略）)
项目所（略）：吉林省，（略）
一、招标条件
（略）建设新型电力电子器件基地项目（第一阶段）颗
粒度测试仪单一来源设备采购项目已由项目审批/核准/备案机关批准，项目资
金来源为国有资金10800万元，（略）。本项目已
具备招标条件，现招标方式：（略）
二、项目概况和招标范围
规模：（略）建设新型电力电子器件基地项目（第一
阶段)颗粒度测试仪单一来源设备采购项目
范围：本招标项目划分为1个标段，本次招标为其中的：
(001)（略）建设新型电力电子器件基地项目（第一阶段）
颗粒度测试仪单一来源设备采购项目；
三、投标人资格要求
(（略）建设新型电力电子器件基地项目（第一阶段）
颗粒度测试仪单一来源设备采购项目)的投标人资格能力要求：3.1基本资格条
件：供应商需具备《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定的基本资格
条件。
3.2落实政府采购政策需满足的资格要求：无。
3.3特定资格条件：无。；
本项目不允许联合体投标。
四、招标文件的获取：（略）
获取：（略）
获取：（略）
领取。
五、投标文件的递交
递交截止时间：2024年05月27日13时30分
递交方式：（略）
六、开标时间及地点：（略）
开标时间：2024年05月27日13时30分
开标地点：（略）
七、其他
一、采购人：（略）
采购人：（略）
项目名称：（略）
阶段)颗粒度测试仪单一来源设备采购项目
（略）：ZT（略）
拟采购的货物或服务的说明：
（略）采购颗粒度测试仪，详见采购文件。
采用单一来源采购方式：（略）
经专家论证，（略）生产的该设备主要应用于晶圆表
面亚微米量级的二维、三维图形缺陷检测，（略）上的全类型缺
陷检测。该产品特点具有1、亚微米级晶圆正背边全维度三合一缺陷检测设备。
2、灵活的模块化配置，节省成本和空间。3、支持三模组同时在线高速数据采
集。4、可搭配深度学习算法实现高效率、高准确率ADC服务。5、多维度测量结
果评价和展示，快速聚焦工艺问题，完全满足采购单位：（略）
高的性价比。（略）光学检测设备的领头企业，该项目具有
专有性、保密性。满足“政府采购法第三十一条第一项”单一来源采购要求，
（略）。
二、拟定的唯一供应商名称：（略）
名称：（略）
地址：（略）
三、公示期限
2024年05月06日至2024年05月10日（公示期限不得少于5个工作日）
四、其他补充事宜：无
八、监督部门
本招标项目的监督部门为-。
九、联系方式：（略）
招标人：（略）
地址：（略）
联系人：（略）
电话：（略）1-6366
电子邮件：-
招标代理：（略）
地址：（略）
（略）1
01号
联系人：（略）
电话：（略）1
电子邮件：（略）@163.com
白明弘
招标人：（略）
签名)
招标人：（略）
(盖章)
附件
单一来源采购方式：（略）
姓名：
宋馨
专业人员信息
职称：
工作单位：（略）
（略）
项目名称：（略）
项目信息
颗粒度测试成单一来源设备第购项目
供应商名称：（略）
（略）
（略）生产
的晶圆表面缺陷检测设备主要用于晶圆
表亚微米级的二图形缺陷检
测.其特点完全满足余购单位：（略）
专业人员论证意见
术要求,具有极高的性比.
该项目具有专业性,保密性.满足政府
条购法系三十一条第一款及余购条例第二十七
条单一来源采购的要求.
建议扔定供方商为:深圳（略）测科
（略）.
专业人员签字
宋慧
日期
2024年5月6日
注：本表格中专业人员论证意见由专业人员手工填写。
19
附件
单一来源采购方式：（略）
姓名：
专业人员信息
职称：
牟元
22
工作单位：（略）
（略）
项目名称：（略）
项目信息
颗粒度测试仪单一源设备采购项目
供应商名称：（略）
（略）
（略）生产的晶圆表面
缺商检测设备主要应用于晶圆表面五微米量级
的二推.三推图形缺陷检测,能实现全类型缺陷
检测,该产品具有:灵活的模块化配置,节成本及
空间。2.支持三模组同时在线高速数据采集.3.多
专业人员论
维度测量结果评价和展示,快速聚工艺问题。这
证意见
些指标完全满足采方所需技术要求,具有较高
性比,（略）光检测设备
领头企业。
该项目具有专业性,保密性,满足政府采法第三十一
条第一款及政府采法实施第二十条单一采
的要求。拟定供应商:深圳中科飞创科技份
（略）
专业人员签字
牟
日期：
24年5月6日
注：本表格中专业人员论证意见由专业人员手工填写。
附件
单一来源采购方式：（略）
姓名
刘振刚
专业人员信息
职称：
工程师
工作单位：（略）
（略）
项目名称：（略）
:颗粒度测试仪单一来源设备采
项目信息
购项目
供应商名称：（略）
深圳中科飞测科技股份
（略）
深圳中科飞测科技股份有限
（略）生产的晶圆表面缺陷检测设
备主要应用于晶圆表面亚微米量级的
二维.三维图形缺陷检测,能够实
（略）上的全类型缺陷检
专业人员论证意见
测:该公司产品特点完全满足采购
单位：（略）
价比。
该项目专有性、保密性满足“政府
采购法第三十一条第一项“单一来源
采购要求,拟定供应商为深圳中科
（略）。
专业人员签字
刘振刚
2024年5月6日
（略）
注本表格中专业人员论证意见由专业人员手工填写
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